Film Sense 多波長橢偏儀 參考價：面議
Film Sense FS-8多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現(xiàn)可靠地薄膜測量。大多數(shù)厚度 0–1...
Filmetrics 自動光反射膜厚測量儀 參考價：1
Filmetrics F60-t 自動光反射膜厚儀就像我們的F50白光干涉膜厚測量儀產(chǎn)品一樣。主要測繪薄膜厚度和折射率。但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能。這些功...
Filmetrics 單點光學(xué)膜厚測量儀 參考價：面議
無論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)ilmetrics F20 單點光學(xué)膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，...
Filmetrics 薄膜厚度測量儀 參考價：面議
Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀是以Filmetrics F20 白光干涉儀膜厚儀為基礎(chǔ)所發(fā)展而來。F10-HC 薄膜厚度測量系統(tǒng)接觸式探頭大...
Filmetrics 薄膜厚度測量儀 參考價：面議
Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀是操作簡單且高性價比的減反射與硬涂層檢測設(shè)備。Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測量儀使得自動測試眼...
Filmetrics 薄膜厚度測量儀 參考價：面議
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設(shè)計目標，F(xiàn)10-RT 薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能...
Filmetrics 光學(xué)厚膜測厚儀 參考價：面議
Filmetrics F3-sX 光學(xué)厚膜測厚儀利用光譜反射原理，可以測量厚度達到3毫米的眾多半導(dǎo)體及介電層薄膜。相對于較薄的膜層，這種厚膜的表面較粗糙且不均勻...
HORIBA 研究級橢圓偏振光譜儀 參考價：面議
HORIBA UVISEL Plus 相位調(diào)制型橢圓偏振光譜儀基于新版的電子設(shè)備，數(shù)據(jù)處理和高速單色儀，F(xiàn)astacq技術(shù)能夠為用戶提供高分辨及快速的數(shù)據(jù)采集。...
HORIBA 橢圓偏振光譜儀 參考價：面議
HORIBA Smart SE 橢圓偏振光譜儀是一種薄膜測量工具。僅需簡單的幾個按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報告，包括薄膜...
HORIBA 橢圓偏振光譜儀 參考價：面議
HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀是一種新型薄膜測量工具。僅需簡單的幾個按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報告，包括薄...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀 參考價：面議
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀的光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀自動化MAPPING 參考價：面議
Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統(tǒng)，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀 參考價：1
Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀能以一個電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀 參考價：面議
Filmetrics F32 光反射式膜厚儀特殊的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3u rack- mount底盤，加上附加的分光計，可達到四個不同的位置(EXR和UVX...
Filmetrics 自動測量光學(xué)膜厚儀 參考價：面議
Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學(xué)膜厚儀借助F54-XYT-300的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度...
Filmetrics 自動光學(xué)膜厚測量儀 參考價：面議
Filmetrics F54-XY-200 自動光學(xué)膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng)，可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的...
Filmetrics F20 白光干涉測厚儀儀 參考價：面議
Filmetrics F20 白光干涉膜厚測量儀是一款高精度、多功能的測量設(shè)備，能夠快速測定薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、反射率和透過率等特性。其非接觸式測量方式適合各種...
Bowman XRF高精度鍍層測厚儀 參考價：面議
Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)是博曼的基礎(chǔ)機型和常規(guī)機型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實現(xiàn)手動操作。測量時將樣品放入樣品倉，通...
Bowman XRF高精度鍍層測量儀 參考價：面議
Bowman博曼 K系列 XRF高精度涂層測量系統(tǒng)，具備12英寸×12英寸的測量區(qū)域，適用于多種樣品檢測。
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀測厚儀 參考價：面議
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀測厚儀嵌入式在線診斷免費離線分析軟件精細的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效的存儲，重現(xiàn)與繪制測量結(jié)果
Filmetircs 光學(xué)膜厚測量儀 參考價：面議
Filmetircs 光學(xué)膜厚測量儀滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測試系統(tǒng)，如需了解更多 光學(xué)膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息，咨詢。
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